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TBIS 15194:2019

C.4.8 檢驗與監視設備
測試時，可使用1 個攝影機或多個照相機監視EPAC 外部與乘客座椅，作為判定
是否符合C.4.6.2.2 之條件。
C.5 來自個別技術單元(ESA)寬頻電磁輻射量測法
C.5.1 一般

C.5.1.1 量測設備
應使用寬峰值偵測器量測寬頻電磁輻射。
備註： 量測設備於 EN 55012 中說明。

C.5.1.2 測試法 – 測試條件
參照EN 55025之內襯吸波室。
C.5.2 測試期間ESA之狀態
參照EN 55025之內襯吸波室。
C.5.3 天線型式、位置與方位

參照EN 55025之內襯吸波室。
C.6 來自個別技術單元(ESA)窄頻電磁輻射量測法
C.6.1 一般

C.6.1.1 量測設備
應使用平均值偵測器量測窄頻電磁輻射。
備註： 量測設備於EN 55012 中說明。
C.6.1.2 測試方法
參照EN 55025之內襯吸波室。

C.6.2 測試條件
參照EN 55025之內襯吸波室。
C.6.3 測試期間ESA 之狀態

參照EN 55025之內襯吸波室。
C.6.4 天線型式、位置與方位
參照EN 55025之內襯吸波室。
C.7 ESA 對電磁輻射抗擾力之測試法
C.7.1 一般

設計這些測試的目的，是為了證明ESA 對任何足以改變直接控制品質因素之不敏
銳度。ESA 應曝露於C.7 所述之電磁場中，且應於測試中進行監視。
C.7.2 結果表示

C.7 中所有其他測試之場強度應以mA (BCI)或V/m 表示。
C.7.3 測試條件
測試設備應有能力產生本附錄所定義之電流或場強度，並應符合與電磁訊號有關
之(國家)法律要求。控制與監視之設備不得受輻射場影響而導致測試不合格。

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